tm3000 台式扫描电镜

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HELIOS NanoLab 600i双束扫描电镜中如何导入bmp格式图片？

型号：FEI Helios NanoLab 600i 购入（安装）时间：2012年5月主要性能和指标：场发射电子枪，电子束加速电压：350 V - 30 kV；Ga离子枪，离子束加速电压：500 V – 30 kV；分辨率：0.8 nm (@30kV, STEM)，0.9 nm (@15kV, SE), 1.4 nm (@1kV, SE)；配备Pt气体沉积源；配置PP3000T冷冻样品传递系统和冷冻样品台；安装Auto Slice&View软件可以实现自动化离子束切割成像。 主要功能和服务范围：生物样品大尺度连续切片扫描电子显微成像和三维重构（SBFSEM技术）；生物样品含水冷冻切片加工；生物样品表面超微结构观察；冷冻扫描电子显微成像等。 仪器说明：先进的DoubleBeam可用于纳米尺度超高分辨率成像、分析和制造。 创新的ElstarTM电子镜筒构成Helios NanoLab高分辨率成像的基础。 可实现高热量稳定性的恒定功率透镜、可实现更高探测线性和速度的静电扫描以及可实现各种条件下的超清晰成像。 改进的穿透透镜探测器（TLD）用于探测最高采集效率的SE（二次电子）和轴BSE（背散射电子），探测器套组包括可伸缩的的固态背散射探测器和多分段STEM探测器。 Figure 1. (a) Helios Nanolab 600i 外观结构，（b）Chamber内部结构，（c）探测器的示意图Tomahawk FIB是 FEI最新研发的离子镜筒，可确保Helios NanoLab 600i执行快速、精确切可靠的的磨削、制图和离子成像。 Tomahawk卓越的低电压性能可制造出高分辨率 STEM 和原子探针显微镜所用的最优质超薄样品。 它不仅具备卓越的离子成像分辨率，而且具备集成的差分抽取和渡越时间纠正功能，交付更紧密的束和更准确的扫描剖面，以便实施极其精确的磨削。 由于 FEI 特有的超广范围的束化学（气体注入）、16 位图案生成器和集成的 CAD、脚本和基于库的制图功能，使得构建最复杂的纳米级结构成为可能。 健全、精确的 FIB 切片以及高度精密的压力驱动的样品台和卓越的SEM 性能开启新一代自动软件的大门，可在无人值守的情况下实现样品制备或三维特征分析。 Helios NanoLab 600i 装配改进的 xT 软件平台，可满足偶然用户和 FIB 专家的易用需求。 Elstar UHR 沉浸式透镜 FESEM 镜筒Elstar 电子枪：　Schottky 热量场发射器　热交换能力60度双物镜、极片保护加热物镜孔静电扫描ConstantPowerTM 透镜技术Tomahawk 离子镜筒卓越的高电流性能：　高至 60 A/cm2 束电流密度　高至 65 nA 的最大束电流最低 (500V)，可确保最高样品制备质量2阶段差分抽吸渡越时间 (TOF) 校正15孔径源使用寿命电子源:12个月使用寿命离子源:1000小时保证电子束分辨率 @ 最佳工作距离0.8 nm/30 kV (STEM)0.9 nm/15 kV1.4 nm/1 kV电子束分辨率 @ 重合点1.0 nm/15 kV1.6 nm/5 kV2.5 nm/1 kV离子束分辨率 @ 重合点4.5 nm/30 kV，使用首选的统计方法2.5 nm/30 kV，使用选择性优势方法最大视场宽度电子束：束重合点：2.3 mm (WD 4 mm)离子束：束重合点：1.0 mm/5 kV着陆电压范围电子束：350 V - 30 kV (50V - 30 kV、配束减速模式选项)离子束：500 V - 30 kV探针电流电子束：高至 22 nA离子束：1 pA - 65 nA(15 位置光圈条)高度精确的5 轴机动样品台XY：150 mm、压力驱动Z：10 mm 机动T：- 10°- + 60°R：n x 360° （无休止）、压力驱动倾斜精度 (50° - 54°)：0.1°X、Y 可重复性：1.0 μm探测器Elstar 透镜内 SE 探测器 (TLD-SE)Elstar 透镜内 BSE 探测器 (TLD-BSE)Everhart-Thornley SE 探测器 (ETD)用于观察样品/镜筒的红外照相机可伸缩的低电压、高衬度固态电子探测器 (CBS)*可伸缩的 STEM 探测器，配 BF/DF/HAADF 分段*束电流测量真空系统1 x 210 L/s TMP1 x PVP （干泵）4 x IGP （电子镜筒和离子镜筒总计）试件室真空：< 2.6*10-6 mbar(24 小时抽吸之后）试件室4 mm 电子束和离子束重合点/分析 WD电子镜筒和离子镜筒角度：52°样品尺寸最大尺寸：150 mm 直径、360度旋转（更大尺寸样品、有限角度旋转）样品台和重合点之间的最大间隙：55 mm重量：最大500 g （包括样品架）样品架单烟蒂托架，直接安装到样品台上夹钳标本架，可夹持不规则、大型或重型标本到标本台上*通用安装基座 (UMB) ，可稳定、灵活地安装样品和支架（例如扁平预倾角 烟蒂）和 TEM 网格所需的成排支架*各种晶片和定制支架可按要求提供*图像处理器驻留时间范围为 0.025 – 25,000 μs/像素最大 4096 x 3536 像素文件类型：TIFF (8、16、24 位)、BMP 或JPEG 标准单帧或四芯线组图像显示SmartSCAN™ （256 帧平均数或合并数、线合并数和平均数）系统控制32 位 GUI，配 Windows®XP、键盘、光电鼠标两台 19 英寸 LCD 显示器、SVGA 1280 x 1024MagicSwitch（软件控制开关盒）操纵杆*多功能控制面板*支持软件‘Beams per quad’ 图形用户界面概念，最高配 4 个同步调节四芯线组EI SPI™、iSPI™、 iRTM™ 和 FIB 沉浸模式，可用于高级且实时的 SEM/FIB 流程监控和端点检测偏移补偿之帧合并 (DCFI)图案支持：直线、矩形、多边形、圆形、环形、横截面和平滑横截面图像登记直接导入 BMP 文件或流式文件，以便三维磨削和沉积材料文件支持‘最短循环时间’、束调谐和独立重叠独有的 DualBeam 冷冻解决方案FEI/ Quorum PP3000T，可用于通用冷冻样品制备和冷冻样品台FEI / Quorum CryoMAT，可用于材料科学冷冻应用软件AutoSlice and View™ – 自动连续磨削和观察，采集系列切片图像，以便三维重构

有谁知道TM3000扫描电镜的操作步骤及操作界面?非常感谢诶

TM3000扫描电镜的操作步骤及操作界面如下：1. 启动计算机，打开电镜开关，并启动电镜软件。 2. 使用双面碳胶带将样品粘贴在样品台上。 3. 使用高度尺进行标高，确保样品比高度尺低1毫米。 4. 打开样品室，将装有样品的样品台（确保样品台完全插入）放入，并调整至正确位置。 5. 按下EVAC/AIR按钮，抽真空直到EVAC灯停止闪烁（大约2-3分钟，根据样品情况而定）。 6. 点击START按钮开始扫描，此时屏幕将显示100倍的图像。 7. 点击“Magnification”旁边的“+”“-”按钮调整放大倍数。 8. 点击“Brightness”旁边的“+”“-”按钮调节亮度，或点击“contrast”旁边的“+”“-”按钮调节对比度。 也可以点击“autoB/C”自动调节亮度和对比度。 9. 点击“auto focus”按钮自动聚焦，或者点击其旁边的“+”“-”按钮手动聚焦。 10. 储存图像：点击save按钮保存图像为1280 x 960分辨率，点击Quick save按钮保存图像为640 x 480分辨率。 11. 关闭电镜： - 点击STOP按钮停止扫描。 - 按下EVAC/AIR按钮，将样品室抽成真空状态。 - 关闭软件，然后关闭电镜开关。 注意事项：1. 确保样品高度不超过高度尺，样品直径要小于样品台直径。 2. 如果样品表面水分过多，请使用滤纸吸干水分。 3. 使用完毕后，及时取出并带走自己的样品。 确保在关闭电镜前将样品室抽成真空状态。 4. 各实验室应在D盘211文件夹下创建自己实验室的文件夹，用于存储扫描电镜的照片。 使用光盘刻录机拷贝文件。

测试表征系列 | 手把手教学X射线能谱(EDX),全篇重点,速收藏

一、电镜中元素分析的利器：X射线能谱（EDX）详解1. EDX在电镜中的关键作用电镜中的X射线能谱（EDX）作为精密附件，能够在纳米级解析样品的结构与成分，特别是在SEM（扫描电镜）和TEM（透射电镜）的配合下，深入剖析B至U元素的特性。 2. X射线的神秘特征当高能电子与样品碰撞，会产生二次电子、背散射电子以及独特的特征X射线，这些特征波长揭示了样品中元素的种类和状态。 3. X射线能谱仪构造与工作原理EDX系统由能量转换探测头、信号放大器、多道脉冲分析器（能量分辨率的关键）和精密的信号处理系统组成。 它通过电子束激发样品，释放出的X射线转化为电信号，经过复杂的分析步骤，为我们揭示样本的化学组成。 4. EDX仪的分类与选择市面上有多探头、平插式和斜插式等多种设计，探测器角度对分析精度有显著影响，务必根据具体应用选择合适的配置。 5. EDX的卓越性能作为电镜的高效工具，EDX分析快速且适用于11-92号元素。 它能实现快速定性和定量分析，稳定性高，对粗糙表面的分析尤为适用，同时支持成分偏析测量，且非破坏性，仅需少量样品准备。 6. 样品制备的艺术从块状到粉末，乃至液体、过滤纸和特殊样本，EDX都能适应各种样品形态，制备方法需要根据分析需求精心选择。 7. EDX分析的科学原理定性分析依赖于元素特征X射线的频率，而定量分析则涉及净强度处理和基体修正，确保结果的准确性。 8. 实战应用与注意事项点分析揭示微结构成分，选取合适区域并关注干扰因素至关重要。 面分析则直观呈现元素分布，需结合形貌图、谱图和扫描信息解读。 务必注意轻元素测量误差，以及可能的背景噪音影响。 9. 解读常见问题与误解A3: 空气中油脂吸附影响C和O峰，SEM基底信号干扰Al和Si峰；A4: EDX谱线多意味着电子壳层丰富，但与元素含量无关，需关注特定线系强度；A5: 低能量峰可能因吸收干扰而被遗漏，需对比其他区域或调整样本位置判断。 深入学习EDX，掌握这些关键点，将助力你在微观世界中揭示无尽的秘密。 参考文献[1] 《物质元素X射线分析能谱技术应用》[2] Kevex SIGMATM X射线能谱仪分析技术指南[3] 扫描电镜分析技术与实践[4] Graphene-MnS在锂存储中的结构与能谱分析[5] Nitrogen-doped graphene在锂存储中的能谱研究

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