非破坏性材料分析

非破坏性材料分析：扫描电子显微镜 (SEM)

扫描电子显微镜，SEM，是一种强大的显微镜，使用扫描聚焦的电子束来成像材料，它是一种非破坏性技术，这意味着它不会损坏样品，并且可以提供样品表面和内部结构的详细图像，原理SEM的工作原理是扫描电子束在样...